验证与测试服务 Verification and Testing Services
数字、模拟和数模混合集成电路分析验证环境

测试仪器与测试系统

  • 超大规模数字集成电路FPGA原型验证系统
  • 半自动晶圆探针台测试系统
  • Agilent 高性能逻辑分析系统16702B
  • Agilent 逻辑分析仪1693A
  • Agilent 超高频示波器系统54853A
  • Agilent 数字示波器54642A
  • Agilent 混合信号示波器54621D
  • Tektronix数字荧光示波器TDS5034B
  • Tektronix 数字示波器TDS2024
  • Tektronix可存储电晶体曲线描绘器577D1
  • Tektronix直流耦合电流探头TCP202
  • Agilent网络分析仪 4395A
  • Agilent直流电子负载6060B
  • Keithley微安电流表486
  • INSTEK数字台式万用表GDM-8055G
  • 扬子仪器低电阻测试仪YD2511A
  • Agilent信号(函数/任意波形)发生器33220A
  • Agilent可编程信号(脉冲/模式/码型)发生器81130A
  • Advantest多路电源R6741A
  • Agilent 可编程直流稳压电源E3631A
  • Agilent直流电源 6038A
  • Leica精密光学显微镜系统 INM100

芯片及系统分析验证服务

  • 上千万门级数字集成电路的FPGA原型验证
  • 功能测试
  • 性能测试
  • 版图分析
射频集成电路及系统分析、建模、验证和测试环境

测试仪器设备

  • 矢量信号源Agilent E8267D
  • 矢量网络分析仪Agilent E8363B(10MHz — 40GHz)
  • Agilent 8719ES(50MHz — 13.5GHz)
  • 半导体参数分析仪Agilent4156C
  • LCR表Agilent 4284
  • 动态信号分析仪Agilent35670A
  • 微波探针台CASCADE Summit11101b
  • 射频/微波探针ACP50 GSG100/150
  • 校准测试软件CASCADE Wincal
  • 参数提取/建模软件Agilent IC-CAP
  • 程控调谐器Focus CCMT-708 ×2 (0.8-6.5GHz)
  • iCCMT-1808/iCombo(0.8-18GHz)
  • 模拟信号源Agilent E8257C(250K-20GHz)
  • 频谱分析仪Agilent4440A(3Hz-26.5GHz,加矢量信号分析软件可升级为89650S矢量信号分析仪)
  • 实时频谱仪Tektronix RSA3408A
  • 双通道功率计Agilent E4419B
  • 直流源Agilent6642A、66312A
  • WinCCMT / WinNoise软件
  • 50GHz在片负载牵引系统 Maury MT984A

分析、建模、验证与测试服务

  • 晶圆
  • 封装片
  • 功能模块
  • 系统板
芯片工程测试环境

超大规模集成电路测试系统Teradyne Integra J750

  • 测试操作系统IG-XL(支持离线操作)
  • 192个数字测试通道(数据速率100MHz,向量深度8M LVM,SCAN扫描)
  • 混合信号测试选件MSO(ASIO & DSIO)

其他测试仪器

  • Tektronix数字荧光示波器TDS3054B:4通道,500MHz带宽,采样速率5GSa/s
  • Tektronix可编程信号发生器AFG3101

芯片工程测试服务

  • 基于ATE的封装片评测(功能和性能测试)
  • 量产测试方案和程序开发